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工业测量显微镜的测量方法有哪些

时间:2021-09-03     作者:南京六维合众科学器材有限公司

工业测量显微镜的用途非常广泛,实用价值也是非常高的,那么工业测量显微镜有几种测量方法,大家有听说吗?

一种:轴切方法。


轴切法是一种测量方法,它利用中心显微镜的标记来瞄准和定位穿过测量片的轴以及测量刀上的划线。测量刀是万工显的附属品。表面有刻线,刻线到刃口的尺寸分别为0.3 mm和0.9 mm,测量时,将测量刀放在测量刀的底板上,刻线面穿过被测件的轴线,使测量刀的刃口与被测面紧密接触。对准对应的米线,测量两把量刀刻线之间的距离,即可间接测量被测件的测量值。为了避免测量中的计算,在中间竖米线两侧刻两组四条对称分布的平行线。每组线与中心线的距离分别为0.9毫米和2.7毫米,正好是测量刀刀刃与线的距离的三倍。这样,用3x物镜瞄准时,刻线板上的0.9和2.7 mm刻线正好压在量刀上的0.3和0.9 mm刻线,然后量刀上的刀刃正好被米线的中间刻线瞄准。主要用于测量螺纹的中径。

工业测量显微镜.png

两种:影像方法。


图像法是一种利用中心显微镜的标记来瞄准和定位图像的测量方法。测量时,通常将刻线对准试件图像的边缘,在读数显微镜上读取数值,然后移动工作台对准刻线相同的试件图像的另一侧,再进行二次读数。两个读数之差即为被测零件的测量值。

三种、接触方法。


接触法是利用中央显微镜的标记将与通用显示附件-光学寻孔器的探头相连的双刻线对准定位的测量方法,该双刻线靠近试件测量点的、线的、面。测量时,将光学寻孔器的探针靠在零件表面(内侧、外侧)。测量孔径时,首先测量头与测量件内孔接触,获得弦长后,用光学孔测量装置的双套线将米字线的中间划线套在中间,在读数显微镜中读取数字;然后改变测量方向,使测量头接触另一侧的测量片,使斜分划板的中间划线仍被光学寻孔器的双套导线套在中间,在读数显微镜上读出另一个数字。两个读数之差,加上探头直径的实际值,就是试件的内部尺寸;如果减去探针直径的实际值,它就是试样的外部尺寸。


以上就是工业测量显微镜的三中测量方法,大家看懂了吗?如果有这方面的意向,可以与我们进行沟通合作洽谈的!

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